X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires
Siegen, 2019
Online
Monographie, Hochschulschrift, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (xii, 115 Seiten)
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Titel: |
X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires
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Verantwortlichkeitsangabe: | vorgelegt von M. Sc. Ali Al Hassan ; Gutachter: Prof. Dr. Dr. Ullrich Pietsch |
Autor/in / Beteiligte Person: | Al Hassan, Ali ; Pietsch, Ullrich (1952-) |
Körperschaft: | Universität Siegen |
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Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Siegen, 2019 |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (xii, 115 Seiten) |
DOI: | 10.25819/ubsi/730 |
Sonstiges: |
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