X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires
Siegen, December 8, 2019
Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
- xii, 115 Seiten : Illustrationen, Diagramme
Zugriff:
Ermittle Ausleihstatus...
Titel: |
X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires
|
---|---|
Verantwortlichkeitsangabe: | vorgelegt von M. Sc. Ali Al Hassan ; Gutachter: Prof. Dr. Dr. Ullrich Pietsch |
Autor/in / Beteiligte Person: | Al Hassan, Ali ; Pietsch, Ullrich (1952-) |
Körperschaft: | Universität Siegen |
Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Siegen, December 8, 2019 |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | xii, 115 Seiten : Illustrationen, Diagramme |
Sonstiges: |
|