Mikroskopie: Lichtmikroskopie, Polarisation, Rasterkraftmikroskopie, Flureszenzmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie : Erlanger Kunststoff-Schadensanalyse
München: Hanser, [2020]
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Monographie, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (XV, 210 Seiten) : Illustrationen
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Titel: |
Mikroskopie: Lichtmikroskopie, Polarisation, Rasterkraftmikroskopie, Flureszenzmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie : Erlanger Kunststoff-Schadensanalyse
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Verantwortlichkeitsangabe: | Gottfried W. Ehrenstein |
Autor/in / Beteiligte Person: | Ehrenstein, Gottfried W. (1937-2021) |
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Veröffentlichung: | München: Hanser, [2020] |
Medientyp: | Monographie |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (XV, 210 Seiten) : Illustrationen |
ISBN: | 9783446462014 pdf |
DOI: | 10.3139/9783446462014 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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