Schemes for quantum metrology in presence of noise

vorgelegt von Sanah Ludmilla Altenburg ; Gutachter Prof. Dr. Otfried Gühne

1. Auflage. - München: Verlag Dr. Hut, 2017

Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource - xvi, 133 Seiten : Diagramme, Illustrationen

Titel:	Schemes for quantum metrology in presence of noise
Verantwortlichkeitsangabe:	vorgelegt von Sanah Ludmilla Altenburg ; Gutachter Prof. Dr. Otfried Gühne
Autor/in / Beteiligte Person:	Altenburg, Sanah (1988-) ; Gühne, Otfried (1975-)
Körperschaft:	Universität Siegen ; Verlag Dr. Hut, München
Link:	Inhaltstext http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-3202-8.html
Verwandtes Werk:	Physik
Ausgabe:	1. Auflage
Veröffentlichung:	München: Verlag Dr. Hut, 2017
Medientyp:	Monographie, Hochschulschrift
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	xvi, 133 Seiten : Diagramme, Illustrationen
ISBN:	9783843932028 Hardcover kaschiert : EUR 60.00 (DE), EUR 61.70 (AT); 3843932026
Schlagwort:	quantum metrology noise quantum correlation
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Physik Enthält Zusammenfassung in deutscher Sprache Universität Siegen Dissertation, 2017 Lokale Notationen: UHEI; UHED; ZZZB Fächer: Physik hbz Verbund-ID: HT019384147

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