On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling

vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar

Siegen: Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen, [2017]

Online Monographie, Hochschulschrift, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) : Illustrationen, Diagramme

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Titel:	On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling
Verantwortlichkeitsangabe:	vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar
Autor/in / Beteiligte Person:	Jamshidifar, Mehran ; Haring Bolívar, Peter (1969-)
Körperschaft:	Universität Siegen
Lokaler Link:	Volltext [kostenfrei] Volltext Volltext [kostenfrei]
Link:	Volltext - Volltext (Open Access) Verlag - Volltext (Open Access) Langzeitarchivierung Nationalbibliothek - Volltext (Open Access)
Verwandtes Werk:	Höchstfrequenztechnik und Quantenelektronik — Weitere Bände Erscheint auch als: Druck-Ausgabe: Jamshidifar, Mehran: On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling, ISBN 9783843929745
Veröffentlichung:	Siegen: Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen, [2017]
Medientyp:	Monographie, Hochschulschrift
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
Schlagwort:	Femtosekundenlaser Messsystem Elektrooptische Abtastung Wellenleiter
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Höchstfrequenztechnik und Quantenelektronik ; Band 7 Enthält Zusammenfassung in deutscher Sprache Universität Siegen Dissertation, 2016 Lokale Notationen: YDG; XVWD; ZZZB Fächer: Elektrotechnik hbz Verbund-ID: HT019269598

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