On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling
Siegen: Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen, [2017]
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Monographie, Hochschulschrift, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
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Titel: |
On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling
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Verantwortlichkeitsangabe: | vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar |
Autor/in / Beteiligte Person: | Jamshidifar, Mehran ; Haring Bolívar, Peter (1969-) |
Körperschaft: | Universität Siegen |
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Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Siegen: Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen, [2017] |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) : Illustrationen, Diagramme |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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