On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling
1. Auflage. - München: Verlag Dr. Hut, 2017
Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
- XIII, 147 Seiten : Illustrationen, Diagramme
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Titel: |
On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling
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Verantwortlichkeitsangabe: | vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar |
Autor/in / Beteiligte Person: | Jamshidifar, Mehran ; Haring Bolívar, Peter (1969-) |
Körperschaft: | Universität Siegen |
Verwandtes Werk: | |
Ausgabe: | 1. Auflage |
Veröffentlichung: | München: Verlag Dr. Hut, 2017 |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | XIII, 147 Seiten : Illustrationen, Diagramme |
ISBN: | 9783843929745 Broschur : EUR 36.00 (DE), EUR 37.10 (AT) |
Sonstiges: |
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