High resolution X-ray scattering from thin films to lateral nanostructures

Ullrich Pietsch ; Václav Holý ; Tilo Baumbach

2. ed.. - New York [u.a.]: Springer, 2004

Monographie, Gedruckte Ressource - XVI, 408 S. : Ill., graph. Darst.

Titel:	High resolution X-ray scattering from thin films to lateral nanostructures
Verantwortlichkeitsangabe:	Ullrich Pietsch ; Václav Holý ; Tilo Baumbach
Autor/in / Beteiligte Person:	Pietsch, Ullrich (1952-) ; Holý, Václav (1953-) ; Baumbach, Tilo (1961-)
Link:	Kapitel Vorwort Inhaltsverzeichnis Buchumschlag
Verwandtes Werk:	Advanced texts in physics Physics and astronomy online library
Ausgabe:	2. ed.
Veröffentlichung:	New York [u.a.]: Springer, 2004
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XVI, 408 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:	9780387400921; 0387400923 Pp. : EUR 106.95
Schlagwort:	Dünne Schicht Röntgenstreuung Mehrschichtsystem
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Advanced texts in physics Gesamttitelangabe: Physics and astronomy online library 1. ed. u.d.T.: Holý, Václav: High resolution X-ray scattering from thin films and multilayers Lokale Notationen: UIO; UIYF; UIQN Fächer: Physik hbz Verbund-ID: HT014205756

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