Investigation of Self-Heating Effects in UTBB FD-SOI MOSFETs by a Modified Thermal Conductivity Model

Xing, Q. ; Su, Y. ; et al.

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4129-4137

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Titel:	Investigation of Self-Heating Effects in UTBB FD-SOI MOSFETs by a Modified Thermal Conductivity Model
Autor/in / Beteiligte Person:	Xing, Q. ; Su, Y. ; Lai, J. ; Li, B. ; Bu, J. ; Zhang, G.
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Zeitschrift:	IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4129-4137
Veröffentlichung:	2022
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9383 (print) ; 1557-9646 (print)
DOI:	10.1109/TED.2022.3183556
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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