Performance Analysis of UTB and Nanowire Tunnel FET by varying various Device Intrinsic Parameters

Joshi, Romil ; Shaherawala, Prutha ; et al.

In: Second International Conference on Electronics and Sustainable Communication Systems (ICESC); (2021-08-04) S. 522-529

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Titel:	Performance Analysis of UTB and Nanowire Tunnel FET by varying various Device Intrinsic Parameters
Autor/in / Beteiligte Person:	Joshi, Romil ; Shaherawala, Prutha ; Rana, Krishna ; Joshi, Krupa ; Parekh, Rutu
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Quelle:	Second International Conference on Electronics and Sustainable Communication Systems (ICESC); (2021-08-04) S. 522-529
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-6654-2867-5 (print) ; 978-1-6654-2866-8 (print)
DOI:	10.1109/ICESC51422.2021.9532875
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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