Comparison of Single-Event Transients in SiGe HBTs on Bulk and Thick-Film SOI
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 71-80
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Comparison of Single-Event Transients in SiGe HBTs on Bulk and Thick-Film SOI
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Autor/in / Beteiligte Person: | Ildefonso, A. ; Tzintzarov, G.N. ; Nergui, D. ; Omprakash, A.P. ; Goley, P.S. ; Hales, J.M. ; Khachatrian, A. ; Buchner, S.P. ; McMorrow, D. ; Warner, J.H. ; Cressler, J.D. |
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Zeitschrift: | IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 71-80 |
Veröffentlichung: | 2020 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0018-9499 (print) ; 1558-1578 (print) |
DOI: | 10.1109/TNS.2019.2950864 |
Sonstiges: |
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