Numerical Simulation and Analysis of Growth Rate of GaN Thin Films

Li, Zhiming ; Li, Hailing ; et al.

In: International Conference on Communications, Information System and Computer Engineering (CISCE); (2019-07-01) S. 704-707

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Titel:	Numerical Simulation and Analysis of Growth Rate of GaN Thin Films
Autor/in / Beteiligte Person:	Li, Zhiming ; Li, Hailing ; Li, Yang ; Lu, Ligen ; Ren, Wanghao
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Quelle:	International Conference on Communications, Information System and Computer Engineering (CISCE); (2019-07-01) S. 704-707
Veröffentlichung:	2019
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-7281-3681-3 (print)
DOI:	10.1109/CISCE.2019.00162
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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