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Classification of defects in solid insulation material by PD methods

Park, Y.G. ; Lee, H.K. ; et al.
In: Proceedings of the 6th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials; Jg. 2 (2000) S. 749-752
Online Konferenz

Titel:
Classification of defects in solid insulation material by PD methods
Autor/in / Beteiligte Person: Park, Y.G. ; Lee, H.K. ; Kim, W.S. ; Lim, K.J. ; Kang, S.H. ; Ree, J.H. ; Kim, B.H.
Link:
Quelle: Proceedings of the 6th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials; Jg. 2 (2000) S. 749-752
Veröffentlichung: 2000
Medientyp: Konferenz
ISBN: 0-7803-5459-1 (print) ; 978-0-7803-5459-3 (print)
DOI: 10.1109/ICPADM.2000.876338
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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