A Study Of Injection Conditions In The Substrate Hot Electron Induced Degradation Of n-MOSFETs

Selmi, L. ; Fiegna, C. ; et al.

In: International Workshop on VLSI Process and Device Modeling; (1993) S. 156-157

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Titel:	A Study Of Injection Conditions In The Substrate Hot Electron Induced Degradation Of n-MOSFETs
Autor/in / Beteiligte Person:	Selmi, L. ; Fiegna, C. ; Sangiorgi, E. ; Bez, R. ; Ricco, B.
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Quelle:	International Workshop on VLSI Process and Device Modeling; (1993) S. 156-157
Veröffentlichung:	1993
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	0-7803-1338-0 (print) ; 978-0-7803-1338-5 (print)
DOI:	10.1109/VPAD.1993.724767
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 1993 International Workshop on VLSI Process and Device Modeling

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