Read rate profile monitoring for defect detection in RFID Systems

Fritz, Gilles ; Maaloul, Boutheina ; et al.

In: IEEE International Conference on RFID-Technologies and Applications (RFID-TA); (2011-09-01) S. 89-94

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Titel:	Read rate profile monitoring for defect detection in RFID Systems
Autor/in / Beteiligte Person:	Fritz, Gilles ; Maaloul, Boutheina ; Beroulle, Vincent ; Aktouf, Oum-El-Kheir ; Hely, David
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Quelle:	IEEE International Conference on RFID-Technologies and Applications (RFID-TA); (2011-09-01) S. 89-94
Veröffentlichung:	2011
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4577-0028-6 (print) ; 978-1-4577-0026-2 (print) ; 978-1-4577-0027-9 (print)
DOI:	10.1109/RFID-TA.2011.6068621
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2011 IEEE International Conference on RFID-Technologies and Applications (RFID-TA)

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