Sensitivity Analysis of HEMT Biosensor for Variation in Alx Ga1-xN Layer Alloy Composition, Bulk Trap and Doping

Kanrar, Sharmistha Shee ; De, Arpan ; et al.

In: IEEE 3rd International Conference on Control, Instrumentation, Energy & Communication (CIEC); (2024-01-25) S. 141-146

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Titel:	Sensitivity Analysis of HEMT Biosensor for Variation in Alx Ga1-xN Layer Alloy Composition, Bulk Trap and Doping
Autor/in / Beteiligte Person:	Kanrar, Sharmistha Shee ; De, Arpan ; Sarkar, Subir Kumar
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Quelle:	IEEE 3rd International Conference on Control, Instrumentation, Energy & Communication (CIEC); (2024-01-25) S. 141-146
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-1370-3 (print)
DOI:	10.1109/CIEC59440.2024.10468245
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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