Review: Cantilever-Based Sensors for High Speed Atomic Force Microscopy

Bernard Ouma Alunda ; Yong Joong Lee

In: Sensors, Jg. 20 (2020-08-01), Heft 17, S. 4784

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This review critically summarizes the recent advances of the microcantilever-based force sensors for atomic force microscope (AFM) applications. They are one the most common mechanical spring–mass systems and are extremely sensitive to changes in the resonant frequency, thus finding numerous applications especially for molecular sensing. Specifically, we comment on the latest progress in research on the deflection detection systems, fabrication, coating and functionalization of the microcantilevers and their application as bio- and chemical sensors. A trend on the recent breakthroughs on the study of biological samples using high-speed atomic force microscope is also reported in this review.

Titel:	Review: Cantilever-Based Sensors for High Speed Atomic Force Microscopy
Autor/in / Beteiligte Person:	Bernard Ouma Alunda ; Yong Joong Lee
Link:	Zum Volltext https://www.mdpi.com/1424-8220/20/17/4784 https://doaj.org/toc/1424-8220
Zeitschrift:	Sensors, Jg. 20 (2020-08-01), Heft 17, S. 4784
Veröffentlichung:	MDPI AG, 2020
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1424-8220 (print)
DOI:	10.3390/s20174784
Schlagwort:	microcantilever atomic force microscope ultra-short cantilevers high-speed atomic force microscope biosensors Chemical technology TP1-1185
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Directory of Open Access Journals Sprachen: English Collection: LCC:Chemical technology Document Type: article File Description: electronic resource Language: English

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