原子層磊晶技術應用在氮化銦鎵/氮化鎵多重量子井製作之研究 ; Preparation of InGaN/GaN Multiple Quantum Wells by Atomic Layer Epitaxy Technique
2003
report
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執行機構:國立臺灣科技大學化學工程系 ; 計畫編號:NSC92-2622-E011-021-CC3 ; 研究期間:9212 ~ 9311 ; 研究經費(仟元):472 ; 本實驗中,我們利用原子層磊晶法 (ALE)來成長氮化鎵(GaN)以及氮化鎵銦(InGaN)三元混 晶薄膜。使用三甲基鎵 (TMG),三甲基銦(TMIn)與氨氣(NH3)作為反應原料,並選用己成長 n 型氮化鎵的藍寶石晶片為基材,探討此一方法成長品質良好的氮化鎵的製程溫度下限。實驗結果發 現,在Ⅴ /Ⅲ族進料比為 1200 下,反應溫度為 450℃時,所成長出之薄膜有多晶化的情況發生; 當溫度逐漸升高到 675℃時,則可成長出單晶的 GaN(0002)磊晶膜。此外,氮化鎵銦(InGaN)三元 混晶的成長是以鎵銦先驅物同時供給方式,在 675℃及[TMIn]/[TMGa]=12 的條件下,可成長出 銦含量約為 11%的氮化鎵銦層,推測銦含量不高可能是由於三甲基銦的表面吸附性較三甲基鎵 低所造成。
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原子層磊晶技術應用在氮化銦鎵/氮化鎵多重量子井製作之研究 ; Preparation of InGaN/GaN Multiple Quantum Wells by Atomic Layer Epitaxy Technique
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Autor/in / Beteiligte Person: | 洪儒生 |
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Veröffentlichung: | 2003 |
Medientyp: | report |
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