Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices

Nafaa, B. ; Touayar, O. ; et al.

In: 2016 7th International Conference on Sciences of Electronics, Technologies of Information and Telecommunications (SETIT) ; https://hal.science/hal-01712397 ; 2016 7th International Conference on Sciences of Electronics, 2016

Konferenz

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International audience

Titel:	Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices
Autor/in / Beteiligte Person:	Nafaa, B. ; Touayar, O. ; Cretu, B. ; Simoen, E. ; Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072 ; Groupe de Recherche en Informatique, Image et Instrumentation de Caen (GREYC) ; Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Institut National des Sciences Appliquées et de Technologie - Carthage (INSAT Carthage) ; (IMEC), IMEC ; Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven)
Link:	https://hal.science/hal-01712397 https://doi.org/10.1109/SETIT.2016.7939833
Zeitschrift:	2016 7th International Conference on Sciences of Electronics, Technologies of Information and Telecommunications (SETIT) ; https://hal.science/hal-01712397 ; 2016 7th International Conference on Sciences of Electronics, 2016
Veröffentlichung:	HAL CCSD ; IEEE, 2016
Medientyp:	Konferenz
DOI:	10.1109/SETIT.2016.7939833
Schlagwort:	Hammamet France [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics Subject Geographic: Hammamet France
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Collection: Normandie Université: HAL Document Type: conference object Language: English Relation: hal-01712397; https://hal.science/hal-01712397

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