Comparative study of NSB and UTB SOI MOSFETs characteristics by extraction of series resistance

Karsenty, A. ; Chelly, A.

In: Solid-State Electronics ; volume 91, page 28-35 ; ISSN 0038-1101, 2014

academicJournal

Titel:	Comparative study of NSB and UTB SOI MOSFETs characteristics by extraction of series resistance
Autor/in / Beteiligte Person:	Karsenty, A. ; Chelly, A.
Link:	https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.09.003 https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0038110113002876?httpAccept=text/xml https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0038110113002876?httpAccept=text/plain
Zeitschrift:	Solid-State Electronics ; volume 91, page 28-35 ; ISSN 0038-1101, 2014
Veröffentlichung:	Elsevier BV, 2014
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.1016/j.sse.2013.09.003
Schlagwort:	Materials Chemistry Electrical and Electronic Engineering Condensed Matter Physics Electronic, Optical and Magnetic Materials
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Collection: ScienceDirect (Elsevier - Open Access Articles via Crossref) Document Type: article in journal/newspaper Language: English

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