Vers la tolérance aux fautes dans les systèmes RFID
In: International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00580365 ; International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011), May 2011, Guelma, Algérie. pp.1, 2011
Konferenz
Zugriff:
International audience
Titel: |
Vers la tolérance aux fautes dans les systèmes RFID
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Autor/in / Beteiligte Person: | Belkacem, Imad ; Aktouf, Oum-El-Kheir ; Nait Bahloul, Safia ; Département d'Informatique Oran ; Université des sciences et de la Technologie d'Oran Mohamed Boudiaf Oran (USTO MB) ; Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes (LCIS) ; Institut Polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology-Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF) |
Link: | |
Zeitschrift: | International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00580365 ; International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011), May 2011, Guelma, Algérie. pp.1, 2011 |
Veröffentlichung: | HAL CCSD, 2011 |
Medientyp: | Konferenz |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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