Assesment of a model to calculate the refractive index of AlXGa1-XN epilayers using the multi-oscillator model simulation of the infrared reflectance

Engelbrecht, J.A.A. ; Minnaar, E.G. ; et al.

In: Physica B: Condensed Matter ; volume 625, page 413484 ; ISSN 0921-4526, 2022

academicJournal

Titel:	Assesment of a model to calculate the refractive index of AlXGa1-XN epilayers using the multi-oscillator model simulation of the infrared reflectance
Autor/in / Beteiligte Person:	Engelbrecht, J.A.A. ; Minnaar, E.G. ; van Dyk, E.E. ; Westraadt, J.E. ; Sephton, B. ; Lee, M.E. ; Henry, A. ; National Research Foundation
Link:	https://doi.org/10.1016/j.physb.2021.413484 https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0921452621006438?httpAccept=text/xml https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0921452621006438?httpAccept=text/plain
Zeitschrift:	Physica B: Condensed Matter ; volume 625, page 413484 ; ISSN 0921-4526, 2022
Veröffentlichung:	Elsevier BV, 2022
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.1016/j.physb.2021.413484
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Condensed Matter Physics Electronic, Optical and Magnetic Materials
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Collection: ScienceDirect (Elsevier - Open Access Articles via Crossref) Document Type: article in journal/newspaper Language: English Rights: https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/ ; https://doi.org/10.15223/policy-017 ; https://doi.org/10.15223/policy-037 ; https://doi.org/10.15223/policy-012 ; https://doi.org/10.15223/policy-029 ; https://doi.org/10.15223/policy-004

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