Influence of Supply Voltage and Body Biasing on Single-Event Upsets and Single-Event Transients in UTBB FD-SOI.

de Boissac, Capucine Lecat-Mathieu ; Abouzeid, Fady ; et al.

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 850-856

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Titel:	Influence of Supply Voltage and Body Biasing on Single-Event Upsets and Single-Event Transients in UTBB FD-SOI.
Autor/in / Beteiligte Person:	de Boissac, Capucine Lecat-Mathieu ; Abouzeid, Fady ; Malherbe, Victor ; Gasiot, Gilles ; Roche, Philippe ; Autran, Jean-Luc
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Zeitschrift:	IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 850-856
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9499 (print)
DOI:	10.1109/TNS.2021.3071963
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Business Source Ultimate Sprachen: English

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