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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    Bias Dependence of Total Ionizing Dose Response in UTBB FD-SOI Transistors
    Zhang, R. ; Zheng, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-12-01), Heft 12, S. 2314-2323
    Online academicJournal
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  2. Detailansicht für Treffer 22 öffnen
    Layout-Induced Strain Study for RF Performance Improvement of 22-nm UTBB FDSOI PFET
    Sloyan, K. ; Ravaux, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3230-3237
    Online academicJournal
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  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    Thermal Cross-Coupling Effects Analysis in UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2020 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2020-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    Anneal Behavior of Total Ionizing Dose Irradiated UTBB FD-SOI n-MOSFETs Activated by Hot Carrier Stress
    Zheng, Q. ; Cui, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023), Heft 1, S. 37-43
    Online academicJournal
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  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    Comparison of Different Approaches used for Estimation of Electrostatics in UTB devices
    Mishra, Nalin Vilochan ; Kansal, Harshit ; et al.
    In: 2022 IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (NANO), 2022-07-04, S. 347-350
    Online Konferenz
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  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    Influence of Supply Voltage and Body Biasing on Single-Event Upsets and Single-Event Transients in UTBB FD-SOI
    de Boissac, C.L. ; Abouzeid, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 850-856
    Online academicJournal
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  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    En paideia som ger förstånd och kunskap: Bibelns relation till antik utbildning
    Hägerland, Tobias
    In: Svensk Exegetisk Årsbok, Jg. 88 (2023-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    Von Alemann, Ulrich, Nina Basedahl, Gernot Graeßner, und Sabrina Kovacs (2022): Politische Ideen im Wandel der Zeit: Opladen/Toronto: Barbara Budrich/UTB. 279 Seiten. 29,90 €
    Hidalgo, Oliver
    In: Politische Vierteljahresschrift: German Political Science Quarterly, 2024-02-29, S. 1-5
    Online academicJournal
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  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    Third Generation BESOI (Back-Enhanced SOI) pMOSFET fabricated on UTBB Wafer
    Katia Sasaki, R. A. ; Rangel, Ricardo C. ; et al.
    In: 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2019-08-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Experiment Characterization of Front and Back Interfaces Impact on Back Gate Modulation in UTBB-FDSOI MOSFETs
    Chen, Wangyong ; Cai, Linlin ; et al.
    In: 2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2019-07-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    UTBot at the SBFT 2023 Java Tool Competition
    Ivanov, Dmitry ; Menshutin, Alexey ; et al.
    In: 2023 IEEE/ACM International Workshop on Search-Based and Fuzz Testing (SBFT), 2023-05-01, S. 68-69
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Characterization of Reliabilities of 22 nm UTBB FDSOI Ring Oscillators
    Cai, Chang ; Zhao, Kai ; et al.
    In: 2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2022-10-25, S. 1-3
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    Analysis of the Thermal Properties of Self-Cascode Structures Composed by UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2020 IEEE Latin America Electron Devices Conference (LAEDC), 2020-02-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    Implementation of the Reasoning Training Program for Optimizing the UTBK Test at SMAN 1 Parepare
    Rahmi, Nur ; Ekasasmita, Wahyuni ; et al.
    In: Jurnal Pengabdian UNDIKMA, Jg. 4 (2023-08-01), Heft 3, S. 701-707
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 35 öffnen
    Analysis of the Output Conductance Degradation With the Substrate Bias in SOI UTB and UTBB Transistors
    Costa, F.J. ; Trevisoli, R. ; et al.
    In: 2018 33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2018-08-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    Self-Heating in 28 FDSOI UTBB MOSFETs at Cryogenic Temperatures
    Nyssens, Lucas ; Halder, Arka ; et al.
    In: ESSDERC 2019 - 49th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2019-09-01, S. 162-165
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
    Trap Dynamics based 3D Kinetic Monte Carlo Simulation for Reliability Evaluation of UTBB MOSFETs
    Chen, Wangyong ; Cai, Linlin ; et al.
    In: 2019 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2019-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 38 öffnen
    Analysis of the substrate effect by the capacitive coupling in SOI UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2019-08-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 39 öffnen
    Hvordan sikre stabile partnerskapsmodeller for sosial infrastruktur i nye utbyggingsområder?1
    Gro Sandkjær Hanssen ; Mette Øinæs Habberstad
    In: Tidsskrift for boligforskning, Jg. 6 (2023-12-01), Heft 2, S. 172-189
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    Impact of Aging Degradation on Heavy-Ion SEU Response of 28-nm UTBB FD-SOI Technology
    Mounir Mahmoud, M. ; Prinzie, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 1865-1875
    Online academicJournal
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