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37.922 Treffer

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    A 288nV/√Hz low-noise capacitively-coupled instrumentation amplifier (CCIA) in 22-nm UTBB FD-SOI for signal conditioning of MEMS piezoresistive pressure sensors
    Ramones, Adam Jefferson ; Villacorta, Paolo Miguel ; et al.
    In: 2023 20th International SoC Design Conference (ISOCC), 2023-10-25, S. 267-268
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    A high CMRR, high input impedance current-feedback instrumentation amplifier (CFIA) in 22-nm UTBB FD-SOI for signal conditioning of MEMS piezoresistive pressure sensors
    Juruena, Kyla Marie ; Villacorta, Paolo Miguel ; et al.
    In: 2023 20th International SoC Design Conference (ISOCC), 2023-10-25, S. 269-270
    Online Konferenz
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    Quantitative identification of significant k-points enabling accurate & computationally efficient UTB MOS device simulation
    Vilochan Mishra, Nalin ; Medury, Aditya Sankar
    In: 2022 International Semiconductor Conference (CAS), 2022-10-12, S. 247-250
    Online Konferenz
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    Standard MOS Diodes Composed by SOI UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2022 36th Symposium on Microelectronics Technology (SBMICRO), 2022-08-22, S. 1-4
    Online Konferenz
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    UTBB FD-SOI Variability Characterization Using Programmable Transistor Arrays
    Mahmoud, M. Mounir ; Prinzie, J. ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-7
    Online Konferenz
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    Ultra-Low-Power Diodes Composed by SOI UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022-07-04, S. 1-4
    Online Konferenz
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    SOI UTBB Capacitive Cross-Coupling Effects in Ultimate Technological Nodes
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2022 IEEE 13th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS), 2022-03-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Performance Analysis of UTB and Nanowire Tunnel FET by varying various Device Intrinsic Parameters
    Joshi, Romil ; Shaherawala, Prutha ; et al.
    In: 2021 Second International Conference on Electronics and Sustainable Communication Systems (ICESC), 2021-08-04, S. 522-529
    Online Konferenz
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    Impact of the Backgate on the Performance of SOI UTBB nMOSFETs at Cryogenic Temperatures
    Han, Yi ; Xi, Fengben ; et al.
    In: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The effects of surface passivation on the electrostatics of the UTB SOI devices
    Solanki, Ravi ; Medury, Aditya Sankar
    In: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Nanoribbon charge-based biosensor using gateless UTBB BESOI pMOSFET
    Sasaki, K. R. A. ; Range, R. C. ; et al.
    In: 2020 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2020-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Thermal Cross-Coupling Effects Analysis in UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2020 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2020-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Comparison of Different Approaches used for Estimation of Electrostatics in UTB devices
    Mishra, Nalin Vilochan ; Kansal, Harshit ; et al.
    In: 2022 IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (NANO), 2022-07-04, S. 347-350
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Third Generation BESOI (Back-Enhanced SOI) pMOSFET fabricated on UTBB Wafer
    Katia Sasaki, R. A. ; Rangel, Ricardo C. ; et al.
    In: 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2019-08-01, S. 1-4
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    Experiment Characterization of Front and Back Interfaces Impact on Back Gate Modulation in UTBB-FDSOI MOSFETs
    Chen, Wangyong ; Cai, Linlin ; et al.
    In: 2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2019-07-01, S. 1-4
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    UTBot at the SBFT 2023 Java Tool Competition
    Ivanov, Dmitry ; Menshutin, Alexey ; et al.
    In: 2023 IEEE/ACM International Workshop on Search-Based and Fuzz Testing (SBFT), 2023-05-01, S. 68-69
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Characterization of Reliabilities of 22 nm UTBB FDSOI Ring Oscillators
    Cai, Chang ; Zhao, Kai ; et al.
    In: 2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2022-10-25, S. 1-3
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Analysis of the Thermal Properties of Self-Cascode Structures Composed by UTBB Transistors
    Costa, Fernando J. ; Trevisoli, Renan ; et al.
    In: 2020 IEEE Latin America Electron Devices Conference (LAEDC), 2020-02-01, S. 1-4
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    Analysis of the Output Conductance Degradation With the Substrate Bias in SOI UTB and UTBB Transistors
    Costa, F.J. ; Trevisoli, R. ; et al.
    In: 2018 33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2018-08-01, S. 1-4
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    Self-Heating in 28 FDSOI UTBB MOSFETs at Cryogenic Temperatures
    Nyssens, Lucas ; Halder, Arka ; et al.
    In: ESSDERC 2019 - 49th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2019-09-01, S. 162-165
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