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    Impact of TID Irradiation on Static Noise Margin of 22 nm UTBB FD-SOI 6-T SRAM Cells
    Zheng, Q. ; Cui, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 281-287
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    Temperature Dependent Band Gap Correction Model Using Tight-Binding Approach for UTB Device Simulations
    Mishra, N.V. ; Solanki, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, Jg. 22 (2023), S. 8-13
    Online academicJournal
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    Analysis of Standard-MOS and Ultra-Low-Power Diodes Composed by SOI UTBB Transistors
    Costa, F.J.d. ; Trevisoli, R. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 634-641
    Online academicJournal
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Investigation of Self-Heating Effects in UTBB FD-SOI MOSFETs by a Modified Thermal Conductivity Model
    Xing, Q. ; Su, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4129-4137
    Online academicJournal
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    Impact of Temperature on the Reliability of UTB-DG-FE-TFETs and Their RF/Analog and Linearity Parameter Dependence
    Gopal, Girdhar ; Varma, Tarun
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 52 (2023-09-01), Heft 9, S. 6293-6307
    Online academicJournal
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    Ultra-Low-Voltage UTBB-SOI-Based, Pseudo-Static Storage Circuits for Cryogenic CMOS Applications
    Nibhanupudi, S.S.T. ; Sundara Raman, S.R. ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), Heft 2, S. 201-208
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    Hur kan lärare och elever förbättra utbildningen tillsammans? Demokratisk skolförbättring och betydelsen av lärares kollektiva vanor
    Andersson, Erik
    In: Forskning og Forandring, Jg. 7 (2024-03-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Bias Dependence of Total Ionizing Dose Response in UTBB FD-SOI Transistors
    Zhang, R. ; Zheng, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-12-01), Heft 12, S. 2314-2323
    Online academicJournal
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    Layout-Induced Strain Study for RF Performance Improvement of 22-nm UTBB FDSOI PFET
    Sloyan, K. ; Ravaux, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3230-3237
    Online academicJournal
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    Anneal Behavior of Total Ionizing Dose Irradiated UTBB FD-SOI n-MOSFETs Activated by Hot Carrier Stress
    Zheng, Q. ; Cui, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023), Heft 1, S. 37-43
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Influence of Supply Voltage and Body Biasing on Single-Event Upsets and Single-Event Transients in UTBB FD-SOI
    de Boissac, C.L. ; Abouzeid, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), Heft 5, S. 850-856
    Online academicJournal
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    En paideia som ger förstånd och kunskap: Bibelns relation till antik utbildning
    Hägerland, Tobias
    In: Svensk Exegetisk Årsbok, Jg. 88 (2023-12-01), Heft 1
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Von Alemann, Ulrich, Nina Basedahl, Gernot Graeßner, und Sabrina Kovacs (2022): Politische Ideen im Wandel der Zeit: Opladen/Toronto: Barbara Budrich/UTB. 279 Seiten. 29,90 €
    Hidalgo, Oliver
    In: Politische Vierteljahresschrift: German Political Science Quarterly, 2024-02-29, S. 1-5
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Implementation of the Reasoning Training Program for Optimizing the UTBK Test at SMAN 1 Parepare
    Rahmi, Nur ; Ekasasmita, Wahyuni ; et al.
    In: Jurnal Pengabdian UNDIKMA, Jg. 4 (2023-08-01), Heft 3, S. 701-707
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Hvordan sikre stabile partnerskapsmodeller for sosial infrastruktur i nye utbyggingsområder?1
    Gro Sandkjær Hanssen ; Mette Øinæs Habberstad
    In: Tidsskrift for boligforskning, Jg. 6 (2023-12-01), Heft 2, S. 172-189
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Impact of Aging Degradation on Heavy-Ion SEU Response of 28-nm UTBB FD-SOI Technology
    Mounir Mahmoud, M. ; Prinzie, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 1865-1875
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    Effects of Scaling on Analog FoMs of UTBB FD-SOI MOS Transistors: A Detailed Analysis
    Bhoir, M.S. ; Mohapatra, N.R.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), Heft 8, S. 3035-3041
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    The Modulation Effect of LPCVD-SixNy Stoichiometry on 2-DEG Characteristic of UTB AlGaN/GaN Heterostructure
    Zhu, L. ; Zhou, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-09-01), Heft 9, S. 4828-4834
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    Interface Trap Charges Analysis on DC and High Frequency Characteristics of UTBB-FDSOI FET
    Awadhiya, Bhaskar ; Yadav, Shivendra ; et al.
    In: Silicon, Jg. 15 (2023), Heft 2, S. 937-942
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Hanna Liss, Jüdische Bibelauslegung, Tübingen, Mohr Siebeck, coll. « Jüdische Studien 4 – UTB 5135 », 2020. 21,5 cm. xxvi-538 p. ISBN 978-3-8252-5135-2. € 40
    In: Études théologiques et religieuses, Jg. 98 (2023-07-18), Heft 2, S. 287-292
    academicJournal
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