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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-06-01), Heft 2, S. 317-328Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 59 (2010-03-01), Heft 1, S. 55-65Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 48 (1999-09-01), Heft 3, S. 262-266Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 48 (1999-03-01), Heft 1, S. 73-78Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 45 (1996-09-01), Heft 3, S. 362-368Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 45 (1996-09-01), Heft 3, S. 359-361Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-03-01), Heft 1, S. 217-234Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 59 (2010-03-01), Heft 1, S. 38-44Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 55 (2006-06-01), Heft 2, S. 314-318Online academicJournalZugriff:
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