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    Quantitative Microanalysis by Rotating Inclined Target Method in EPMA
    Gennai, Norio
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 10 (1971-09-01), Heft 9, S. 1125-1125
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    Measurements of Aluminum X-Ray Emission Bands Shift by EPMA
    Maruno, Shigeo ; Fujii, Sueo
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 9 (1970-11-01), Heft 11, S. 1428-1428
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    Depth Distribution of Characteristic X-rays in EPMA Alloy Targets I. Angular Distribution and f(?)-Curves of Fe K X-rays in Fe-Al Alloy Targets
    Shimizu, Ryuichi ; Murata, Kenji ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 9 (1970), Heft 1, S. 132-132
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    Uncertainty in the Determination of Depth Distribution of Characteristic X-rays in EPMA Target
    Shimizu, Ryouichi ; Murata, Kenji
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 8 (1969-12-01), Heft 12, S. 1572-1572
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    Analysis of tunneling probability in heavily doped 4H-SiC Schottky barrier diodes based on complex band structure considering barrier potential
    Murakami, Yutoku ; Nagamizo, Sachika ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 63 (2024-03-01), Heft 3, S. 03SP46
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    Wannier–Stark localization of electronic states in 4H-SiC MOS inversion layer
    Nagamizo, Sachika ; Tanaka, Hajime ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 63 (2024-02-29), Heft 2, S. 02SP62
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