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    Analyse des données d'un système RFID en vue de sa sûreté de fonctionnement
    Belkacem, Imad ; Aktouf, Oum-El-Kheir ; et al.
    In: 1st International Conference on Information Systems and Technologies (ICIST 2011) ; https://hal.science/hal-00580364 ; 1st International Conference on Information Systems and Technologies (ICIST 2011), Apr 2011, Tébessa, Algérie. pp.1, 2011
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Vers la tolérance aux fautes dans les systèmes RFID
    Belkacem, Imad ; Aktouf, Oum-El-Kheir ; et al.
    In: International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011) ; https://hal.science/hal-00580365 ; International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011), May 2011, Guelma, Algérie. pp.1, 2011
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Analyse des données d'un système RFID en vue de sa sûreté de fonctionnement
    Belkacem, Imad ; Aktouf, Oum-El-Kheir ; et al.
    In: 1st International Conference on Information Systems and Technologies (ICIST 2011) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00580364 ; 1st International Conference on Information Systems and Technologies (ICIST 2011), Apr 2011, Tébessa, Algérie. pp.1, 2011
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Vers la tolérance aux fautes dans les systèmes RFID
    Belkacem, Imad ; Aktouf, Oum-El-Kheir ; et al.
    In: International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00580365 ; International Conference on Systems and Processing Information (ICSPI 2011), May 2011, Guelma, Algérie. pp.1, 2011
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