Suchergebnisse
Katalog
Aufsätze & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Art der Quelle
Thema
- metal oxide semiconductor field-effect transistors 41 Treffer
- breakdown voltage 29 Treffer
- logic gates 29 Treffer
- breakdown voltage (bv) 23 Treffer
- mosfet 22 Treffer
-
45 weitere Werte:
- silicon carbide 21 Treffer
- single-event burnout (seb) 19 Treffer
- computer simulation 15 Treffer
- doping 15 Treffer
- electric fields 15 Treffer
- logic circuits 15 Treffer
- threshold voltage 13 Treffer
- electric field 12 Treffer
- single event effects 12 Treffer
- electrodes 11 Treffer
- buffer layers 9 Treffer
- field-effect transistors 9 Treffer
- performance evaluation 9 Treffer
- silicon 9 Treffer
- 4h-sic 8 Treffer
- on-resistance 8 Treffer
- silicon carbide (sic) 8 Treffer
- specific on-resistance 8 Treffer
- split gate flash memory cells 8 Treffer
- capacitance 6 Treffer
- degradation 6 Treffer
- electric potential 6 Treffer
- electromagnetic shielding 6 Treffer
- energy dissipation 6 Treffer
- jfets 6 Treffer
- oxides 6 Treffer
- p-n junctions 6 Treffer
- semiconductor doping 6 Treffer
- simulation 6 Treffer
- simulation methods & models 6 Treffer
- switches 6 Treffer
- mos-fet 5 Treffer
- trench 5 Treffer
- trenches 5 Treffer
- 2-d numerical simulation 4 Treffer
- cryogenic temperature 4 Treffer
- dielectric 4 Treffer
- elevated temperature 4 Treffer
- figure of merit (fom) 4 Treffer
- forward voltage drop 4 Treffer
- leistungstransistor 4 Treffer
- linear energy transfer (let) 4 Treffer
- mesa 4 Treffer
- numerical simulation 4 Treffer
- schottky diode 4 Treffer
Verlag
Sprache
Inhaltsanbieter
37 Treffer
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 41 (1994-01-05), Heft 5, S. 800-808Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 27 (1980-01-05), Heft 5, S. 907-914Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 3, S. 1513-1522Online serialPeriodicalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 39 (1992-01-11), Heft 11, S. 2672-2673Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 35 (1988-01-12), Heft 12, S. 2459-2460Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 44 (1997-07-01), Heft 7, S. 1148-1153Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!NachschlagewerkZugriff: