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  1. Bouafia, Abdelouahab ; Krim, Fateh ; et al.
    In: Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE) ; https://hal.science/hal-04107762 ; Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE), Jun 2008, Cambridge,U.K., United Kingdom. pp.323-328, ⟨10.1109/ISIE.2008.4676887⟩, 2008
    Konferenz
  2. Chaoui, Abdelmadjid ; Gaubert, Jean-Paul ; et al.
    In: Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE) ; https://hal.science/hal-04107761 ; Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE), Jun 2008, Cambridge,U.K., United Kingdom. pp.31-37, ⟨10.1109/ISIE.2008.4677277⟩, 2008
    Konferenz
  3. Chaoui, Abdelmadjid ; Gaubert, Jean-Paul ; et al.
    In: Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE) ; https://hal.science/hal-04107761 ; Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE), Jun 2008, Cambridge,U.K., United Kingdom. pp.31-37, ⟨10.1109/ISIE.2008.4677277⟩, 2008
    Konferenz
  4. Bouafia, Abdelouahab ; Krim, Fateh ; et al.
    In: Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE) ; https://hal.science/hal-04107762 ; Proc. IEEE International Symposium on Industrial Electronics (IEEE-ISIE), Jun 2008, Cambridge,U.K., United Kingdom. pp.323-328, ⟨10.1109/ISIE.2008.4676887⟩, 2008
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