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    Application of EPMA and analytical TEM to brazed metal-supported catalytic Converters
    Richter, Silvia ; Bode, Hans ; et al.
    In: Microchimica acta 161(3/4), 405-411 (2008). doi:10.1007/s00604-007-0891-z, 2008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Depth profile analysis on the nanometer scale by a combination of electron probe microanalysis (EPMA) and focused ion beam specimen preparation (FIB)
    Richter, Silvia ; Bückins, Matthias ; et al.
    In: Microchimica acta 145(1/4), 187-192 (2004). doi:10.1007/s00604-003-0151-9, 2004
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The use of SIMS, SEM, EPMA, LRS and X-ray diffraction measurements for the examination of corrosive layers and protective coatings on steels and alloys in advanced power stations
    Nickel, Hubertus ; Niewolak, Leszek ; et al.
    In: Microchimica acta 148(3/4), 241-249 (2004). doi:10.1007/s00604-004-0267-6, 2004
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Application of sputter-assisted EPMA to depth profile analysis
    Lesch, Norbert ; Richter, Silvia ; et al.
    In: Microchimica acta 132(2/4), 377-382 (2000). doi:10.1007/s006040050083, 2000
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Comparative analysis of a solar control coating on glass by AES, EPMA, SNMS and SIMS
    Pidun, M. ; Lesch, N. ; et al.
    In: Microchimica acta 132(2/4), 429-434 (2000). doi:10.1007/s006040050090, 2000
    academicJournal
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    EPMA sputter depth profiling of an InGaAs-InP heterostructure
    Karduck, P. ; Richter, S.
    In: Fresenius journal of analytical chemistry 365, 221-226 (1999, 1999
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Preparation of cuprite (Cu2O), paramelaconite (Cu2+3 Cu1+2 O4) and tenorite (CuO) with magnetron sputtering ion plating: characterization by EPMA, XRD, HEED and SEM
    von Richthofen, A. ; Domnick, R. ; et al.
    In: Fresenius journal of analytical chemistry 358, 312-312 (1997, 1997
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Investigation of implanted gallium depth distributions in ZnSxSe-x by EPMA
    Ammann, Norbert ; Gleitsmann, Götz ; et al.
    In: Microchimica acta 114/115, 165-173 (1994). doi:10.1007/BF01244540 special issue: "[3rd Workshop of the European-Microbeam-Analysis-Society: Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis, RIMINI, ITALY, MAY 09-13, 1993]", 1994
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Combined EPMA and AES depth profiling of a multilayer Ti-Al-O-N coating
    von Richthofen, A. ; Matsuo, M. ; et al.
    In: Microchimica acta 114/115, 511-523 (1994, 1994
    academicJournal
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    On the labyrinthine world of arsenites: a single-crystal neutron and X-ray diffraction study of cafarsite
    Gatta, G. Diego ; Rotiroti, Nicola ; et al.
    In: Physics and chemistry of minerals 45(9), 819 - 829 (2018). doi:10.1007/s00269-018-0964-z, 2018
    academicJournal
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    Modelling Interdiffusion Processes in CMSX-10/Ni Difusion Couple
    Chyrkin, Anton ; Epishin, A. ; et al.
    In: Journal of phase equilibria and diffusion 37(2), 201-211 (2016). doi:10.1007/s11669-015-0444-9, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?

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