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    A review on BSNL's next generation networks
    Mitha, M ; Triveni, C L
    In: 2017 International Conference on Innovative Mechanisms for Industry Applications (ICIMIA), 2017-02-01, S. 312-316
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    Behavior Simulation of SSC Generator With Adjustable Modulation Frequency and Depth
    You, Wan-Yu ; Yang, Ching-Yuan
    In: 2023 20th International SoC Design Conference (ISOCC), 2023-10-25, S. 81-82
    Online Konferenz
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    The Majority Gate as a Source of Error Pulses in Redundancy Systems when Collecting Charge from the Tracks of Single Particles
    Katunin, Yu. V. ; Stenin, V. Ya.
    In: 2021 IEEE 32nd International Conference on Microelectronics (MIEL), 2021-09-12, S. 325-328
    Online Konferenz
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    Masking of SET in a CMOS Triple Majority Gate on Logic NAND under Impacts of Single Ionizing Particles
    Katunin, Yu. V. ; Stenin, V. Ya.
    In: 2021 IEEE 32nd International Conference on Microelectronics (MIEL), 2021-09-12, S. 321-324
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Collective-effect state variables for post-CMOS logic applications
    Chen, A. ; Jacob, A. P. ; et al.
    In: 2009 Symposium on VLSI Technology, 2009-06-01, S. 132
    Online Konferenz
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