Suchergebnisse
Katalog
Aufsätze & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Art der Quelle
Thema
- silicon 16 Treffer
- metal oxide semiconductor field-effect transistors 15 Treffer
- mobility 11 Treffer
- electron mobility 9 Treffer
- scattering 8 Treffer
-
45 weitere Werte:
- germanium 7 Treffer
- electric capacity 6 Treffer
- effective mass 5 Treffer
- mosfet 5 Treffer
- phonon scattering 5 Treffer
- phonons 5 Treffer
- ultrathin body 4 Treffer
- capacitance 3 Treffer
- charge carrier mobility 3 Treffer
- charge exchange 3 Treffer
- complementary metal oxide semiconductors 3 Treffer
- computer simulation 3 Treffer
- computer-aided design 3 Treffer
- conductivity 3 Treffer
- crystal orientation 3 Treffer
- crystallography 3 Treffer
- density of states 3 Treffer
- electrostatics 3 Treffer
- energy-band theory of solids 3 Treffer
- exciton theory 3 Treffer
- field-effect transistors 3 Treffer
- finfet 3 Treffer
- free electron theory of metals 3 Treffer
- friction 3 Treffer
- iii-v compound semiconductor 3 Treffer
- inas 3 Treffer
- line edge roughness (ler) 3 Treffer
- logic circuits 3 Treffer
- logic gates 3 Treffer
- metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (mosfets) 3 Treffer
- microfabrication 3 Treffer
- mobility model 3 Treffer
- performance of transistors 3 Treffer
- predictive models 3 Treffer
- research 3 Treffer
- self-heating effects (shes) 3 Treffer
- semiconductor device modeling 3 Treffer
- semiconductor materials 3 Treffer
- silicon films 3 Treffer
- silicon-on-insulator 3 Treffer
- soi mosfets 3 Treffer
- solid modeling 3 Treffer
- sram 3 Treffer
- static random access memory chips 3 Treffer
- surface roughness (sr) 3 Treffer
Sprache
Inhaltsanbieter
8 Treffer
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4129-4137Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), Heft 3, S. 895-900Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), Heft 4, S. 2003-2009Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-10-01), Heft 10, S. 3298-3304Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-07-01), Heft 7, S. 1567-1574Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-03-01), Heft 3, S. 947-954Online academicJournalZugriff: