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  1. Kamgar, A. ; Vuong, H. H. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest, 1997, S. 695-698
    Online Konferenz
  2. Vuong, H. H. ; Rafferty, C.S. ; et al.
    In: SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest, 1997, S. 85-88
    Online Konferenz
  3. Vuong, H. H. ; Rafferty, C.S. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting. Technical Digest, 1996, S. 807-810
    Online Konferenz
  4. Rafferty, C.S. ; Vuong, H. H. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting, 1993, S. 311-314
    Online Konferenz
  5. Liu, C.T. ; Baumann, F.H. ; et al.
    In: 1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325), 1999, S. 75-76
    Online Konferenz
  6. Chang, C. P. ; Shive, S.F. ; et al.
    In: 1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325), 1999, S. 161-162
    Online Konferenz
  7. Rafferty, C.S. ; Giles, M. D. ; et al.
    In: [Proceedings] 1993 International Workshop on VLSI Process and Device Modeling (1993 VPAD), 1993, S. 148-149
    Online Konferenz
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