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    Effects of sidewall spacer layers on thermal and low frequency noise performance of SOI UTB MOSFETs.
    Bhattacherjee, Swagata ; Biswas, Abhijit
    In: Microsystem Technologies, Jg. 28 (2022-03-01), Heft 3, S. 653-658
    Online academicJournal
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    Impact of Back-Gate Radiation on Single-Event Effects of Ultrathin Body and Buried Oxide Fully Depleted Silicon-on-Insulator MOSFETs.
    Wu, Zhenyu ; Peng, Chaoqun ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 52 (2023-11-01), Heft 11, S. 7496-7503
    Online academicJournal
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    Analysis of a high-performance ultra-thin body ultra-thin box silicon-on-insulator MOSFET with the lateral dual-gates: featuring the suppression of the DIBL.
    Wei, Sufen ; Zhang, Guohe ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 24 (2018-10-01), Heft 10, S. 3949-3956
    Online academicJournal
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    Simulating the Self-Heating Effect for MOSFETs with Various Configurations of Buried Oxide.
    Petrosyants, K. O. ; Popov, D. A.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 48 (2019-12-01), Heft 7, S. 467-469
    Online academicJournal
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