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    Dynamic Vpass Controlled Program Scheme and Optimized Erase Vth Control for High Program Inhibition in MLC NAND Flash Memories
    Park, K. T. ; Song, Y. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 45 (2010-10-01), Heft 10, S. 2165-2172
    Online academicJournal
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    Impact of \Vpass Interference on Charge-Trapping NAND Flash Memory Devices.
    Hsiao, Yi-Hsuan ; Lue, Hang-Ting ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device & Materials Reliability, Jg. 15 (2015-06-01), Heft 2, S. 136-141
    Online academicJournal
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    Advanced DC-SF Cell Technology for 3-D NAND Flash
    Aritome, S. ; Noh, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-04-01), Heft 4, S. 1327-1333
    Online academicJournal
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    Depletion-enhanced body-isolation (DEBI) array on SOI for highly scalable and reliable NAND flash memories.
    Il Han Park ; Tae Hun Kim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, Jg. 5 (2006-05-01), Heft 3, S. 201-204
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