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    A Three-Stage Charge Pump With Forward Body Biasing in 28 nm UTBB FD-SOI CMOS.
    Pinheiro, Carlos A. ; Olivera, Fabian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 68 (2021-11-01), Heft 11, S. 4810-4819
    Online serialPeriodical
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    Analysis of Soft Error Rates in 65- and 28-nm FD-SOI Processes Depending on BOX Region Thickness and Body Bias by Monte-Carlo Based Simulations.
    Zhang, Kuiyuan ; Umehara, Shigehiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-08-01), Heft a4, S. 2002-2009
    Online academicJournal
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    Compact Modeling of Negative-Capacitance FDSOI FETs for Circuit Simulations.
    Dabhi, Chetan Kumar ; Parihar, Shivendra Singh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 2710-2716
    Online academicJournal
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    Total Ionizing Dose Effects Mitigation Strategy for Nanoscaled FDSOI Technologies.
    Gaillardin, M. ; Martinez, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 6, S. 3023-3029
    Online academicJournal
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    A Device-Level Transient Modeling Approach for the FPGA-Based Real-Time Simulation of Power Converters.
    Bai, Hao ; Luo, Huan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Power Electronics, Jg. 35 (2020-02-01), Heft 2, S. 1282-1292
    Online academicJournal
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    An FPGA-Based IGBT Behavioral Model With High Transient Resolution for Real-Time Simulation of Power Electronic Circuits.
    Bai, Hao ; Liu, Chen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 66 (2019-08-01), Heft 8, S. 6581-6591
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    FPGA-Based Device-Level Electro-Thermal Modeling of Floating Interleaved Boost Converter for Fuel Cell Hardware-in-the-Loop Applications.
    Bai, Hao ; Liu, Chen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industry Applications, Jg. 55 (2019-09-01), Heft 5, S. 5300-5310
    Online academicJournal
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    Online Estimation of Lithium Polymer Batteries State-of-Charge Using Particle Filter-Based Data Fusion With Multimodels Approach.
    Zhou, Daming ; Zhang, Ke ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industry Applications, Jg. 52 (2016-05-01), Heft 3, S. 2582-2595
    Online academicJournal
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