Zum Hauptinhalt springen
UB Siegen

Suchergebnisse

Katalog

Aufsätze & mehr
5 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Aufsätze & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Notation".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Sprache

Inhaltsanbieter

5 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Contact pressure measurement using silicon-based AlxGa1−xAs semiconductor pressure sensors
    Tun, Thet Naing ; Lok, Toh Siew ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical ; volume 118, issue 2, page 190-201 ; ISSN 0924-4247, 2005
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    AlxGa1−xAs semiconductor sensor for contact pressure measurement
    Toh, Siew-Lok ; Tay, Cho-Jui ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical ; volume 79, issue 1, page 31-35 ; ISSN 0924-4247, 2000
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    TEM combined with AlxGa1−xAs As marker layers as a technique for the study of GaAs MBE growth
    Mazur, J.H. ; Washburn, J. ; et al.
    In: Ultramicroscopy ; volume 18, issue 1-4, page 371-377 ; ISSN 0304-3991, 1985
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Determination of the Al content in thin AlxGa1−x layers by SIMS
    Janssen, K.T.F. ; de Jong, A.F.
    In: Ultramicroscopy ; volume 27, issue 2, page 206 ; ISSN 0304-3991, 1989
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Composition analysis of thin AlxGa1−xAs layers in TEM using thickness fringes
    de Jong, A.F. ; Janssen, K.T.F.
    In: Ultramicroscopy ; volume 27, issue 2, page 206-207 ; ISSN 0304-3991, 1989
    academicJournal
    Wie komme ich dran?

Elektronische Zeitschriften

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -