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    Impact of interface impurities on heterostructure field-effect transistors
    Reynolds, C.L., Jr. ; Vuong, H.H.T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 39 (1992-11-01), Heft 11, S. 2459-2464
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Sidegating in a GaAs MBE-grown HFET structure
    Vuong, T.H.H. ; Gibson, W.C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 37 (1990), Heft 1, S. 51-57
    Online academicJournal
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