Zum Hauptinhalt springen
UB Siegen

Suchergebnisse

Katalog

Aufsätze & mehr
9 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Aufsätze & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Notation".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Publikation

Sprache

Inhaltsanbieter

9 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Impact of Aging Degradation on Heavy-Ion SEU Response of 28-nm UTBB FD-SOI Technology.
    Mounir Mahmoud, M. ; Prinzie, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 1865-1875
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Endurance of One Transistor Floating Body RAM on UTBOX SOI.
    Aoulaiche, Marc ; Bravaix, Alain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-03-01), Heft 3, S. 801-805
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Mobility Improvement Study for 8-Å-EOT HfO2 UTBB-FD-SOI MOSFET Based on the Direct Extraction of the Back-Channel Mobility.
    Trojman, Lionel ; Ragnarsson, Lars-Ake ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-11-01), Heft 11, S. 3632-3638
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Evaluation of Mobility Degradation Factors and Performance Improvement of Ultrathin-Body Germanium-on-Insulator MOSFETs by GOI Thinning Using Plasma Oxidation.
    Yu, Xiao ; Kang, Jian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-04-01), Heft 4, S. 1418-1425
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Impact of Back-Gate Bias and Device Geometry on the Total Ionizing Dose Response of 1-Transistor Floating Body RAMs.
    Mahatme, N. N. ; Zhang, E. X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 6, S. 2966-2973
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Power Optimization Distribution Method for Fuel Cell System Cluster Comprehensively Considering System Economy.
    Wang, Tianhong ; Li, Qi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 69 (2022-12-01), Heft 12, S. 12898-12911
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Remaining Useful Life Prediction for Fuel Cell Based on Support Vector Regression and Grey Wolf Optimizer Algorithm.
    Chen, Kui ; Laghrouche, Salah ; et al.
    In: IEEE Transactions on Energy Conversion, Jg. 37 (2022-06-01), Heft 2, S. 778-787
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Power Allocation Method for Multistack PEMFC System Considering Fuel Cell Performance Consistency.
    Wang, Tianhong ; Li, Qi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industry Applications, Jg. 56 (2020-09-01), Heft 5, S. 5340-5351
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Remaining Useful Life Estimation of Critical Components With Application to Bearings.
    Medjaher, Kamal ; Tobon-Mejia, Diego Alejandro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-06-01), Heft 2, S. 292-302
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Zum Volltext
    Wie komme ich dran?

Elektronische Zeitschriften

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -