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In: ISSN: 0026-2714, 2016Online academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0026-2714, 2016Online academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0026-2714 ; Microelectronics Reliability ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02300027 ; Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 65, pp.79 - 88, 2016Online academicJournalZugriff: