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    Low frequency noise characterization in n-channel UTBOX devices with 6 nm Si film
    Cretu, Bogdan ; Simoen, Eddy ; et al.
    In: The International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF) ; https://hal.science/hal-00994170 ; The International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), 2013, Montpellier, France. 4 p, 2013
    Online Konferenz
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    Low frequency noise characterization in n-channel UTBOX devices with 6 nm Si film
    Cretu, Bogdan ; Simoen, Eddy ; et al.
    In: The International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00994170 ; The International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), 2013, Montpellier, France. 4 p, 2013
    Online Konferenz
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    Considerations for High-Speed Configurable- bandwidth Time-interleaved Digital Delta-Sigma Modulators and Synthesis in 28 nm UTBB FDSOI
    Marin, Razvan-Cristian ; Frappé, Antoine ; et al.
    In: 2015 IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) ; https://hal.univ-lille.fr/hal-02314236 ; 2015 IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Jun 2015, Grenoble, France. pp.1-4, ⟨10.1109/NEWCAS.2015.7182049⟩, 2015
    Online Konferenz
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    Considerations for High-Speed Configurable- bandwidth Time-interleaved Digital Delta-Sigma Modulators and Synthesis in 28 nm UTBB FDSOI
    Marin, Razvan-Cristian ; Frappé, Antoine ; et al.
    In: 2015 IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) ; https://hal.univ-lille.fr/hal-02314236 ; 2015 IEEE 13th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Jun 2015, Grenoble, France. pp.1-4, ⟨10.1109/NEWCAS.2015.7182049⟩, 2015
    Online Konferenz
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    Static and low frequency noise characterization in standard and rotated UTBOX nMOSFETs
    Cretu, Bogdan ; Simoen, E. ; et al.
    In: In Proceedings of EUROSOI-ULIS’2015 Conference (2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon ; EUROSOI-ULIS’2015 Conference ; https://hal.science/hal-01196423 ; EUROSOI-ULIS’2015 Conference, Jan 2015, Bologne, Italy, 2015
    Konferenz
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    Static and low frequency noise characterization in standard and rotated UTBOX nMOSFETs
    Cretu, Bogdan ; Simoen, E. ; et al.
    In: In Proceedings of EUROSOI-ULIS’2015 Conference (2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon ; EUROSOI-ULIS’2015 Conference ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01196423 ; EUROSOI-ULIS’2015 Conference, Jan 2015, Bologne, Italy, 2015
    Konferenz
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    Low frequency noise spectroscopy in rotated UTBOX nMOSFETs
    Cretu, Bogdan ; Simoen, E. ; et al.
    In: In Proceeding of ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations) ; ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01196552 ; ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations), Jun 2015, Xi’An, China. ⟨10.1109/ICNF.2015.7288588⟩, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low frequency noise spectroscopy in rotated UTBOX nMOSFETs
    Cretu, Bogdan ; Simoen, E. ; et al.
    In: In Proceeding of ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations) ; ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations) ; https://hal.science/hal-01196552 ; ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations), Jun 2015, Xi’An, China. ⟨10.1109/ICNF.2015.7288588⟩, 2015
    Konferenz
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    Low frequency noise assessment in advanced UTBOX SOI n-channel MOSFETs
    Strobel, V. ; Cretu, Bogdan ; et al.
    In: Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits ; In Proceedings of EUROSOI'2013 Conference ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits ; https://hal.science/hal-00994155 ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, 2013
    Online Konferenz
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    Low-frequency noise for different gate dielectrics on state-of-the-art UTBOX SOI nMOSFETs
    dos Santos, S.D. ; Simoen, E. ; et al.
    In: Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits ; In Proceedings of EUROSOI'2013 Conference ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits ; https://hal.science/hal-00994159 ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, 2013
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    Low frequency noise assessment in advanced UTBOX SOI n-channel MOSFETs
    Strobel, V. ; Cretu, Bogdan ; et al.
    In: Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits ; In Proceedings of EUROSOI'2013 Conference ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00994155 ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, 2013
    Online Konferenz
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    Low-frequency noise for different gate dielectrics on state-of-the-art UTBOX SOI nMOSFETs
    Dos Santos, S.D. ; Simoen, E. ; et al.
    In: Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits ; In Proceedings of EUROSOI'2013 Conference ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00994159 ; 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, 2013
    Online Konferenz
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    Low-Frequency Noise in High-K and SiO2 UTBOX SOI nMOSFETS
    Dos Santos, S.D. ; Martino, J.A. ; et al.
    In: China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC 2013) ; In Proceedings of CSTIC 2013 Conference ; China Semiconductor Technology International Conference ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00994161 ; China Semiconductor Technology International Conference, Mar 2013, shangai, China. pp.87-92, 2013
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    On the Variability and Front-Back Coupling of the Low-frequency Noise in UTBOX SOI nMOSFETs
    dos Santos, S.D. ; Simoen, E. ; et al.
    In: IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology ; https://hal.science/hal-00994176 ; IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, Oct 2012, xian, China. 3 p, 2012
    Online Konferenz
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    On the Variability and Front-Back Coupling of the Low-frequency Noise in UTBOX SOI nMOSFETs
    Dos Santos, S.D. ; Simoen, E. ; et al.
    In: IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00994176 ; IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, Oct 2012, xian, China. 3 p, 2012
    Online Konferenz
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    ULP Variability-insensitive SRAM design in sub-32nm UTBB FDSOI CMOS
    Makosiej, Adam ; Vladimirescu, Andrei ; et al.
    In: EUROSOI 2011 Conference Proceedings ; EUROSOI 2011 ; https://hal.science/hal-00643894 ; EUROSOI 2011, Jan 2011, Granada, Spain. pp.35-36, 2011
    Online Konferenz
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    ULP Variability-insensitive SRAM design in sub-32nm UTBB FDSOI CMOS
    Makosiej, Adam ; Vladimirescu, Andrei ; et al.
    In: EUROSOI 2011 Conference Proceedings ; EUROSOI 2011 ; https://hal.science/hal-00643894 ; EUROSOI 2011, Jan 2011, Granada, Spain. pp.35-36, 2011
    Online Konferenz
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    Low Noise Power Amplifier in 28-nm UTBB FDSOI Technology with Forward Body Bias
    Ali, Mohsen ; Adnan, Harb ; et al.
    In: The Third International Conference on Electrical and Electronic Engineering, Telecommunication Engineering and Mechatronics (EEETEM2017) ; https://hal.science/hal-01567853, 2017
    Konferenz
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    A simple analytical and explicit compact model for the drain current of UTB SOI MOSFETs
    Lime, F. ; Ritzenthaler, R. ; et al.
    In: 2011 Spanish Conference on Electron Devices (CDE) ; https://hal.science/hal-02066647 ; 2011 Spanish Conference on Electron Devices (CDE), Feb 2011, Palma de Mallorca, Spain. pp.1-4, ⟨10.1109/sced.2011.5744174⟩, 2011
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    A simple analytical and explicit compact model for the drain current of UTB SOI MOSFETs
    Lime, F. ; Ritzenthaler, R. ; et al.
    In: 2011 Spanish Conference on Electron Devices (CDE) ; https://hal.science/hal-02066647 ; 2011 Spanish Conference on Electron Devices (CDE), Feb 2011, Palma de Mallorca, Spain. pp.1-4, ⟨10.1109/sced.2011.5744174⟩, 2011
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