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    Magnetic shielding effiency of integrated inductors
    Boukhari, Mahamat Issa ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, DTIP ; https://hal.science/hal-03906117 ; Design, 2022
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Magnetic shielding effiency of integrated inductors
    Boukhari, Mahamat Issa ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, DTIP ; https://hal.science/hal-03906117 ; Design, 2022
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Magnetic shielding effiency of integrated inductors
    Boukhari, Mahamat Issa ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, DTIP ; https://hal.science/hal-03906117 ; Design, 2022
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Magnetic shielding effiency of integrated inductors
    Boukhari, Mahamat Issa ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, DTIP ; https://hal.science/hal-03906117 ; Design, 2022
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization method for integrated planar devices at low frequencies (up to 100 MHz)
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288801 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of X-rays and protons on integrated magnetic inductors
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288815 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of X-rays and protons on integrated magnetic inductors
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288815 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
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    Characterization method for integrated planar devices at low frequencies (up to 100 MHz)
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288801 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of X-rays and protons on integrated magnetic inductors
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288815 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization method for integrated planar devices at low frequencies (up to 100 MHz)
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288801 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization method for integrated planar devices at low frequencies (up to 100 MHz)
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288801 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of X-rays and protons on integrated magnetic inductors
    Oumar, D.A ; Boukhari, M.I ; et al.
    In: Design Test Integration and Packaging (DTIP) ; https://hal.science/hal-02288815 ; Design Test Integration and Packaging (DTIP), May 2019, Paris, France, 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Magnetic field radiated by integrated inductors and magnetic shielding
    Mahamat, Boukhari ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: ICIT (International Conference on Industrial Technology) ; https://hal.science/hal-01861607 ; ICIT (International Conference on Industrial Technology) , Feb 2018, Lyon, France, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    NORMALISATION DU CHAMP MAGNÉTIQUE RAYONNE PAR UNE INDUCTANCE INTÉGRÉE
    Boukhari, M.I ; Oumar, D.A ; et al.
    In: 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018) ; https://hal.science/hal-02006145 ; 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018), Jul 2018, Paris, France, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    NORMALISATION DU CHAMP MAGNÉTIQUE RAYONNE PAR UNE INDUCTANCE INTÉGRÉE
    Boukhari, M.I ; Oumar, D.A ; et al.
    In: 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018) ; https://hal.science/hal-02006145 ; 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018), Jul 2018, Paris, France, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Magnetic field radiated by integrated inductors and magnetic shielding
    Mahamat, Boukhari ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: ICIT (International Conference on Industrial Technology) ; https://hal.science/hal-01861607 ; ICIT (International Conference on Industrial Technology) , Feb 2018, Lyon, France, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    NORMALISATION DU CHAMP MAGNÉTIQUE RAYONNE PAR UNE INDUCTANCE INTÉGRÉE
    Boukhari, M.I ; Oumar, D.A ; et al.
    In: 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018) ; https://hal.science/hal-02006145 ; 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018), Jul 2018, Paris, France, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Magnetic field radiated by integrated inductors and magnetic shielding
    Mahamat, Boukhari ; Oumar, D.A. ; et al.
    In: ICIT (International Conference on Industrial Technology) ; https://hal.science/hal-01861607 ; ICIT (International Conference on Industrial Technology) , Feb 2018, Lyon, France, 2018
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    NORMALISATION DU CHAMP MAGNÉTIQUE RAYONNE PAR UNE INDUCTANCE INTÉGRÉE
    Boukhari, M.I ; Oumar, D.A ; et al.
    In: 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018) ; https://hal.science/hal-02006145 ; 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2018), Jul 2018, Paris, France, 2018
    Konferenz
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    Read-Error-Rate evaluation for RFID system on-line testing
    Fritz, Gilles ; Beroulle, Vincent ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE 2010 IEEE 16th International Mixed-Signals, Sensors and Systems Test Workshop (IMS3TW) ; 2010 IEEE 16th International Mixed-Signals, 2010
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

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