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    Error Analysis of the Square Root Operation for the Purpose of Precision Tuning: a Case Study on K-means
    Matoussi, Oumaima ; Durand, Yves ; et al.
    In: ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors ; https://inria.hal.science/hal-02183945 ; ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, 2019
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Error Analysis of the Square Root Operation for the Purpose of Precision Tuning: a Case Study on K-means
    Matoussi, Oumaima ; Durand, Yves ; et al.
    In: ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors ; https://inria.hal.science/hal-02183945 ; ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, 2019
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Error Analysis of the Square Root Operation for the Purpose of Precision Tuning: a Case Study on K-means
    Matoussi, Oumaima ; Durand, Yves ; et al.
    In: ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors ; https://inria.hal.science/hal-02183945 ; ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Error Analysis of the Square Root Operation for the Purpose of Precision Tuning: a Case Study on K-means
    Matoussi, Oumaima ; Durand, Yves ; et al.
    In: ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors ; https://hal.inria.fr/hal-02183945 ; ASAP 2019 - 30th IEEE International Conference on Application-specific Systems, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Periodic Testing of FPGAs Using a Software Test Method
    Aktouf, Oum-El-Kheir ; Chauché, Alain ; et al.
    In: Proceedings of 5th IEEE International On-Line Testing Workshop ; 5th IEEE International On-Line Testing Workshop ; https://hal.science/hal-00193439 ; 5th IEEE International On-Line Testing Workshop, 1999, Rhodes, Greece. pp.Juillet 1999, 1999
    Konferenz
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    Testing Programmable Devices in Hardware/Software Systems
    Aktouf, Oum-El-Kheir ; Chauché, Alain ; et al.
    In: Proceedings of IEEE European Test Workshop (ETW) ; IEEE European Test Workshop (ETW) ; https://hal.science/hal-00193469 ; IEEE European Test Workshop (ETW), 1999, Constance, Germany. pp.Mai 1999, 1999
    Konferenz
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    Periodic Testing of FPGAs Using a Software Test Method
    Aktouf, Oum-El-Kheir ; Chauché, Alain ; et al.
    In: Proceedings of 5th IEEE International On-Line Testing Workshop ; 5th IEEE International On-Line Testing Workshop ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00193439 ; 5th IEEE International On-Line Testing Workshop, 1999, Rhodes, Greece. pp.Juillet 1999, 1999
    Konferenz
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    Testing Programmable Devices in Hardware/Software Systems
    Aktouf, Oum-El-Kheir ; Chauché, Alain ; et al.
    In: Proceedings of IEEE European Test Workshop (ETW) ; IEEE European Test Workshop (ETW) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00193469 ; IEEE European Test Workshop (ETW), 1999, Constance, Germany. pp.Mai 1999, 1999
    Konferenz
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