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In: Microelectronics Reliability, Jg. 137 (2022-10-01)Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 123 (2021-08-01)Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 76-77 (2017-09-01), S. 390-394Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 64 (2016-09-01), S. 676-680Online academicJournalZugriff: