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    Co-Design of Topology, Scheduling, and Path Planning in Automated Warehouses
    Leet, Christopher ; Oh, Chanwook ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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    Warm-Boot Attack on Modern DRAMs
    Jiang, Yichen ; Wang, Shuo ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
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    Reconciling QoS and Concurrency in NVIDIA GPUs via Warp-Level Scheduling
    Singh, Jayati ; Olmedo, Ignacio Sanudo ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 1275-1280
    Online Konferenz
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    HERMES: qualification of High pErformance pRogrammable Microprocessor and dEvelopment of Software ecosystem
    Ibellaatti, Nadia ; Lepape, Edouard ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
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    CFU Playground: Want a faster ML processor? Do it yourself!
    Prakash, Shvetank ; Callahan, Tim ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
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    Super-Efficient Super Resolution for Fast Adversarial Defense at the Edge
    Bhardwaj, Kartikeya ; Gope, Dibakar ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 418-423
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    Opportunistic Communication with Latency Guarantees for Intermittently-Powered Devices
    Wardega, Kacper ; Li, Wenchao ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 1093-1098
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    Heterogeneous Computing Systems for Complex Scientific Discovery Workflows
    Hagleitner, Christoph ; Diamantopoulos, Dionysios ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 13-18
    Online Konferenz
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    Application-Aware Scheduling of Networked Applications over the Low-Power Wireless Bus
    Wardega, Kacper ; Li, Wenchao
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 222-227
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Probabilistic Sequential Multi-Objective Optimization of Convolutional Neural Networks
    Yin, Zixuan ; Gross, Warren ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1055-1060
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    ODLPIM: A Write-Optimized and Long-Lifetime ReRAM-Based Accelerator for Online Deep Learning
    Zhou, Heng ; Wu, Bing ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Efficient Parallelization of 5G-PUSCH on a Scalable RISC-V Many-Core Processor
    Bertuletti, Marco ; Zhang, Yichao ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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    Highlighting Two EM Fault Models While Analyzing a Digital Sensor Limitations
    Nabhan, Roukoz ; Dutertre, Jean-Max ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electrical Rule Checking of Integrated Circuits using Satisfiability Modulo Theory
    Ferres, B. ; Oulkaid, O. ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    MUSCAT: MUS-based Circuit Approximation Technique
    Witschen, Linus ; Wiersema, Tobias ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 172-177
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    AIME: Watermarking AI Models by Leveraging Errors
    Mehta, Dhwani ; Mondol, Nurun ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 304-309
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Reliable Edge Intelligence in Unreliable Environment
    Lee, Minah ; She, Xueyuan ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 896-901
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Moore's Law and ICT Innovation in the Anthropocene
    Bol, David ; Pirson, Thibault ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 19-24
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    CMRC: Comprehensive Microarchitectural Register Coalescing for GPGPUs
    Radaideh, Ahmad M. ; Gratz, Paul V.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 1803-1808
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    PCM: Precision-Controlled Memory System for Energy Efficient Deep Neural Network Training
    Kim, Boyeal ; Lee, Sang Hyun ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1199-1204
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