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    Modelling and Development of 4H-SiC Nanowire/Nanoribbon Biosensing FET Structures
    Karker, Olfa ; Zekentes, Konstantinos ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Modelling and Development of 4H-SiC Nanowire/Nanoribbon Biosensing FET Structures
    Karker, Olfa ; Zekentes, Konstantinos ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    On the Optimum Determination and Use of SiC VJFET Threshold Voltage
    Kayambaki, Maria ; Makris, Nikolaos ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2018
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A Continuous Semi-Empirical VJFET Capacitance Model from Sub to above Threshold Regime
    Makris, Nikolaos ; Kayambaki, Maria ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2018
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    On the Optimum Determination and Use of SiC VJFET Threshold Voltage
    Kayambaki, Maria ; Makris, Nikolaos ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2018
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A Continuous Semi-Empirical VJFET Capacitance Model from Sub to above Threshold Regime
    Makris, Nikolaos ; Kayambaki, Maria ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2018
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    On the Optimum Determination and Use of SiC VJFET Threshold Voltage
    Kayambaki, Maria ; Makris, Nikolaos ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2018
    academicJournal
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    A Continuous Semi-Empirical VJFET Capacitance Model from Sub to above Threshold Regime
    Makris, Nikolaos ; Kayambaki, Maria ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2018
    academicJournal
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    Salicide-Like Process for the Formation of Gate and Source Contacts in 4H-SiC TSI-VJFETs
    Stavrinidis, Antonis ; Konstantinidis, George ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2017
    academicJournal
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    Salicide-Like Process for the Formation of Gate and Source Contacts in 4H-SiC TSI-VJFETs
    Stavrinidis, Antonis ; Konstantinidis, George ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2017
    academicJournal
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    DNA Detection Using SiC Nanowire Based Transistor
    Bano, Edwige ; Fradetal, Louis ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of Bottom-Up and Top-Down 3C-SiC NWFETs
    Choi, Ji Hoon ; Bano, Edwige ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2016
    academicJournal
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    Comparison of Bottom-Up and Top-Down 3C-SiC NWFETs
    Choi, Ji Hoon ; Bano, Edwige ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    DNA Detection Using SiC Nanowire Based Transistor
    Bano, Edwige ; Fradetal, Louis ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2016
    academicJournal
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    DNA Detection Using SiC Nanowire Based Transistor
    Bano, Edwige ; Fradetal, Louis ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of Bottom-Up and Top-Down 3C-SiC NWFETs
    Choi, Ji Hoon ; Bano, Edwige ; et al.
    In: ISSN: 0255-5476, 2016
    academicJournal
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