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  1. Sun, R. ; Qian, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 28 (2020-02-01), Heft 2, S. 565-575
    Online academicJournal
  2. Zhou, J. ; Zhou, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-02-01), Heft 2, S. 714-724
    Online academicJournal
  3. Aamir, S. A. ; Angelov, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 22 (2014-04-01), Heft 4, S. 888-898
    Online academicJournal
  4. Chen, T. W. ; Su, Y. C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 20 (2012-12-01), Heft 12, S. 2329-2332
    Online academicJournal
  5. He, G. ; Zhou, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-12-01), Heft 12, S. 3138-3138
    Online academicJournal
  6. Licciardo, G.D. ; D'Arienzo, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-11-01), Heft 11, S. 2531-2531
    Online academicJournal
  7. Huang, C. ; Tikekar, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 22 (2014-07-01), Heft 7, S. 1515-1515
    Online academicJournal

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