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  1. Liu, H. ; Yuan, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 73 (2024-06-01), Heft 2, S. 1380-1392
    Online academicJournal
  2. Yeo, S.M. ; Yow, H.K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 73 (2024-03-01), Heft 1, S. 784-791
    Online academicJournal
  3. Ge, X. ; Fang, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 72 (2023-12-01), Heft 4, S. 1648-1662
    Online academicJournal
  4. Arnold, R. ; Chukova, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-12-01), Heft 4, S. 1178-1194
    Online academicJournal
  5. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-03-01), Heft 1, S. 342-354
    Online academicJournal
  6. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 66 (2017-12-01), Heft 4, S. 980-988
    Online academicJournal
  7. Jia, H. ; Ding, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 66 (2017-09-01), Heft 3, S. 795-805
    Online academicJournal
  8. Park, M. ; Jung, K. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-06-01), Heft 2, S. 604-612
    Online academicJournal
  9. Xie, W. ; Ye, Z. S.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-03-01), Heft 1, S. 486-497
    Online academicJournal
  10. Hsu, N. J. ; Tseng, S. T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-09-01), Heft 3, S. 1057-1067
    Online academicJournal
  11. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-03-01), Heft 1, S. 381-393
    Online academicJournal
  12. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-03-01), Heft 1, S. 394-409
    Online academicJournal
  13. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-12-01), Heft 4, S. 1325-1339
    Online academicJournal
  14. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-06-01), Heft 2, S. 819-828
    Online academicJournal
  15. Levitin, G. ; Xing, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-03-01), Heft 1, S. 444-453
    Online academicJournal
  16. Zhai, Q. ; Yang, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-03-01), Heft 1, S. 349-358
    Online academicJournal
  17. Huang, Y. S. ; Chen, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-12-01), Heft 4, S. 898-907
    Online academicJournal
  18. Park, M. ; Pham, H.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-09-01), Heft 3, S. 822-831
    Online academicJournal
  19. Chien, Y. H.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-06-01), Heft 2, S. 389-397
    Online academicJournal
  20. Amari, S. V. ; Pham, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-12-01), Heft 4, S. 1007-1018
    Online academicJournal

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